原子力顯微鏡的原理與應用
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）
一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。
它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏 感元件之間的...
7*12小時服務熱線（業務咨詢）：400-099-6011
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Leica DM2700 M LED照明正置材料顯微鏡。Leica DM2700 M為適用于明場、暗場、微分干涉、偏光以及熒光用途的多功能立式顯微系統。
2017年01月04日CCM200C普通型清潔度檢測系統對清洗過濾后得到的濾有殘渣的濾紙，通過顯微鏡法觀察和測定殘渣顆粒的大小，與CCM-100C型的清潔度檢測系統的差別在CCM-200C型是智能型，可以通過電腦任何控制平臺。
2018年12月10日徠卡金相顯微鏡主要用于材料分析，金相組織觀察，與同濟大學合作的顯微鏡型號是DM6M為正置式三目鏡，配了徠卡品牌DFC450型的500萬物理像素攝像頭…
2016年08月27日BAHENS儀器微信公眾號
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