日本電子場發射掃描電鏡JSM-7200F標配TTLS系統（Through-The-Lens System），無論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統機型有了很大的提升。能兼顧高分辨率觀察和高通量分析，具有充實的自動功能和易用性，是新一代的多功能場發射掃描電鏡。

JSM-IT100 提供的直觀操作，同樣也適用于EDS分析，利用 EDS 導航器能順利地進行定量分析、定性分析和元素面分布，只需很少的步驟就可執行豐富的分析功能，新手也能輕松駕馭。

JSM-IT300掃描電子顯微鏡經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。

臺式掃描電子顯微鏡日本電子JCM-6000Plus。按下裝置的分析按鈕，就能開啟 EDS 視窗。EDS 能支持定性 / 定量分析、點分析和元素面分析（確認元素分布）。